JW-5003D半导体器件可靠性测试所需要用到的环境试验设备

半导体器件可靠性测试所需要用到的环境试验设备JW-5003D

三槽式冷热冲击箱JW-5000系列

用于测试材料结构或复合材料,在瞬间经温度以及极低温的连续环境下所能忍受的程度，最短时间内检测试样因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。

产品亮点

●高低温循环可达1000次，不结霜，温度恢复时间小于5分钟，转换时间小于10秒。

●三箱式结构，样品不需移动，易于测试线缆连接，可自由切换两温和三温模式。

●试件放置在固定的测试室内,不会随提篮移动,相对静止，无任何机械冲击。

●采用彩色触摸屏控制,界面友好,具有参数记录功能，Error信息实时显示,轻松排除故障。

●流体力学仿真精密计算，变频技术与产品工艺制造技术有效降低能耗。

技术参数 Technical parameter

测试空间容积： 50-2250升

高温室温度范围： +60至+200℃

温度恢复时间： ≤5min

试验室温度范围： -72至+180℃

低温室温度： -80至-10℃

噪 音： 56-63 dB(A)